LED Test

【LED 事業部】

EVERVISION 億力光電 LED事業部自2007年開始生產LED晶粒代工廠,主要產品為LED晶粒點測/分類/目檢服務,為億光旗下子公司。


▶ 企業經營理念

品質:Quality
創新:Innovation
規劃:Planning
行銷:Marketing

▶ 環境理念

億力光電以推進企業活動與地球環境均衡調和為目標,積極致力於環境保護,負起優良企業公民的社會責任

▶ 代工優勢

自動化流程、MES系統、防呆

▶ 重點項目

A. 高安定性的代工檢查水準
B. 符合客戶需求的出貨品質
C. 檢查效率提升, 配合客製化條件製程


【技術 & 研發】

  • 晶粒點測代工

▶ 特色:

  1. 測電性值、亮度、波長、ESD測試    
  2. 藍光、綠光、紫光、紅
  • LED 晶粒分類代工

▶ 特色:

  1. 依客戶BIN規格做分類
  2. 挑揀能力6mil~60mil
  • LED晶粒目檢代工 AOI/PI

電極殘金 、線路斷線 、針痕 、電極污染、電極刮/壓傷、 電極缺陷 、SiO2殘留、金屬析出 、電極掀金 、線路掀金 、電極色差(顏異)、 發光區金屬殘留 、發光區刮傷 、發光區剝落 、發光區污染 、過度蝕刻 、ITO 破洞 、磊缺 、魚鱗 、晶粒正面彩虹狀、 背鍍不完全 、晶粒背面彩虹狀、 晶粒切割不良 、TCL 開洞不全 、磊晶平邊異常 、晶粒背面裂痕 、Mesa 斷線 、SWE 側蝕 、偏斜切 、晶粒殘膠 、少一層passivation、 保護層破洞 、暗裂 、CBL 殘留、 立晶 、反面 、錯位 、排列不整(歪斜) 、空洞 、分片 、藍膜異常、 離型紙反向、 混料 、晶粒厚度、 藍膜內異物、 晶粒下陷 、晶粒膠粒 。

▶ 特色:

P/N電極刮傷與污染缺陷、發光區刮傷與污染缺陷、晶粒崩損缺陷、其他缺陷(客製化缺陷檢測軟體開發)。

▶ 特色:

PI 為AOI後段工程,主要操作方式為利用顯微鏡將不良晶體剔除。


【產品種類】

  1. 晶粒點測代工 (LED Chip Probing ) 
  2. 晶粒分類代工 (LED Mapping Sorting )
  3. 晶粒目檢代工 (AOI / PI )


【市場應用】

路燈、汽車(LED面版)、行動裝置、家電用品、顯示看板、數位顯示…等。

聯絡諮詢表單

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